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新一代的賽默飛世爾科技 Helios 5 DualBeam FIB雙束電鏡經過精心設計，可滿足材料科學研究人員和工程師對廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是有挑戰性的樣品。

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更新日期：2025-09-10

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Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統，可為廣泛類型的樣品，包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。

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更新日期：2025-09-10

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PFIB顯微鏡較快的材料去除率和較高的切割面質量，是毫米尺度范圍納米分辨率下較快的高質量亞表面和三維表征設備。

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更新日期：2023-03-20

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Helios 5 DualBeam FIB雙束掃描電鏡經過精心設計，可滿足材料科學研究人員和工程師對廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是具挑戰性的樣品。

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更新日期：2023-03-20

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FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統，可為的廣泛類型的樣品，包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。

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更新日期：2023-03-20

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Scios 2 DualBeam FIB雙束掃描電鏡系統創新性的功能設計，優化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿足科學家和工程師在學術和工業環境中進行高級研究和分析的理想解決方案。

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更新日期：2023-03-20

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