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Helios 5 DualBeam FIB雙束掃描電鏡經過精心設計，可滿足材料科學研究人員和工程師對廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是具挑戰性的樣品。

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更新日期：2023-03-20

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FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統，可為的廣泛類型的樣品，包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。

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更新日期：2023-03-20

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Scios 2 DualBeam FIB雙束掃描電鏡系統創新性的功能設計，優化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿足科學家和工程師在學術和工業環境中進行高級研究和分析的理想解決方案。

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更新日期：2023-03-20

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飛秒激光PFIB Thermo Scientific™ Helios™ 5 Laser PFIB提供了優良的能力，大體積3D分析，Ga-free樣品制備，和精密微加工。

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更新日期：2025-09-10

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